一、產品概述 JW3308手持式回損儀設計用于測量各種光器件、
光鏈路的反射衰耗,控制光纖接頭質量,在光纖安裝和
系統運行的過程中,可測試光回損質量,是應用于現場的
*優化解決方案??煞謩e用做光回損測試儀、光功率計、
光源,并具有數據存儲功能。
二、技術指標
光回損測試
測試波長(nm)
1310/1550
譜寬(nm)
<5
顯示范圍(dB)
6~70
精度(dB)
±0.5
分辨率(dB)
0.01
光功率計
波長范圍(nm)
850 ~ 1650
校準波長(nm)
850、 1300、 1310 、 1490、 1550 、 1625
檢測器類型
InGaAs
顯示模式
dBm 、dB 、W
顯示范圍(dBm)
-70 ~+6
*大輸入功率(dBm)
+6
0.3
光源
波長(nm)
*大輸出功率(dBm)
-3
穩定度(dB,30min)
± 0.05
調制頻率(HZ)
CW, 270, 1K, 2K